2881. #Writing testbenches using System Verilog
پدیدآورنده : #by Janick Bergeron
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع : Computer hardware description languages ،Integrated circuits
رده :
#
TK
،#.
B48
2882. Writing testbenches using System Verilog
پدیدآورنده : / by Janick Bergeron
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Computer hardware description languages,Integrated circuits- Verification
رده :
TK7885
.
7
.
B48
2006
2883. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith )David Keith(
موضوع : ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
2884. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors--Design and construction--Quality control,Integrated circuits--Measurement,Semiconductor wafers--Inspection,X-rays--Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
2885. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
2886. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
2887. Xicor data book
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : Handbooks, manuals, etc. ، Semiconductor storage devices,Handbooks, manuals, etc. ، Integrated circuits,Handbooks, manuals, etc. ، Metals oxide semiconductors
رده :
TK
7895
.
M4
.
X529
1987
2888. Yield and reliability in microwave circuit and system design
پدیدآورنده : Meehan, Michael D.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Microwave integrated circuits- Design and construction- Statistical methods,، Engineering design- Statistical methods,، Computer- aided design
2889. Yield simulation for integrated circuits
پدیدآورنده : Walker, Duncan Moore Henry.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Mathematical models,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Defects- Mathematical models,، Integrated circuits- Very large scale integration- Defects- Data processing,، Monte Carlo method
2890. abc's of integrated circuits
پدیدآورنده : Turner, R. P.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Electronic circuits,، Microelectronics,، Integrated circuits
رده :
TK
7877
.
T88
1971